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    计算机断层扫描（CT）是对样品进行无损检测（NDT）和无损评价（NDE）的关键手段，可部分取代传统破坏性剖切的检测方法，实现在任意方向上无损取得剖切成像，更可以从三维立体结构上进行观察和分析，更真实地反映样品内部结构。

    新葡萄8883拥有X射线三维CT的设备演示和测试服务实验室，持续为客户给予检测服务，帮助客户解决各种应用需求。现在已积累了15000余件样品的分析经验，为客户给予了超过4000份测试报告。 

    CT检测已经超出了传统意义上的无损探伤的范畴，除了能检测内部的缺陷之外，还在尺寸测量、统计分析和模拟计算等方面体现出独特的优势。



    成像

    尺寸测量

    统计分析

    模拟计算

     

    X-ray 2D成像

    CT断层3D成像

    Slice剖面视频

    三维渲染视频

     

     

    长度测量

    角度测量

    体积计算

    表面积计算

     

     

    孔隙率

    壁厚分析

    数模比对

    逆向工程

     

     

    多孔介质渗流模拟

    热导率模拟

    有限元计算

     

     




                          样品材质：碳材料、高分子、陶瓷、铝镁轻金属、铁镍重金属等各种密度等级

                          样品尺寸：可实现跨尺度的样品扫描，0.1mm~1000mm

                          样品准备：一般无需特殊制备要求，可直接测试（无需抛光、染色等前处理）

            

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